TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱仪)的局限性

2025-04-26 19:14:49
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回答1:

1. 破坏性
2. 无化学键联信息
3. 只能分析元素
4. 样品必须是固态以及真空兼容
5. 要分析的元素必需是已知的