扫描电镜（SEM）能测出晶型吗

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理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是哪种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型。
扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息。
北京普瑞赛司仪器有限公司自2001年起，公司陆续与蔡司（ZEISS）签订了材料显微镜及电子显微镜中国区战略合作伙伴协议；负责蔡司材料显微镜及电子显微镜系列产品、相关设备和附件在中国地区的销售、服务与技术咨询业务。

理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型