电子元器件失效分析常用检测手段有哪些?

2025-03-13 02:33:20
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回答1:

失效分析程序原则是
1先进行外部分析,后内部分析;
2先进行无损性分析,后进行破坏性分析;
3先分析失效背景,后分析失效元件,以避免丢失与失效相关的痕迹,或者引入新的损伤而使得失效机理的判断不准确。大多数的测试分析都是一次性的,很难恢复,所以在每步的操作时候应该加倍小心,认真观察。