原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM）利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。一般分子比原子大（至少不比原子小），所以能看到分子
扫描探针显微镜包括原力显微镜扫描隧道显微
