通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息
观察物质的晶体结构，根据晶体结构可以推断出物质成分，晶胞参数，结晶度
通过观察出峰位置和强度，获取物质的结构信息。
就像每个人都有指纹一样,每种不同的化学成分的XRD图谱都有不同的特征峰(位置,强度的区别),比方说一张纸上有多个人的指纹,警方可以分辨出来都有哪些人碰过这张纸一样,对于混合物,通过对其XRD图谱的分析可以得知该混合物中有哪些化学成分,以及各成分的含量.
此外也可以通过衍射图谱分析材料的微观结构(晶格常数,原子位置,占位率等),材料的晶粒尺寸和晶格畸变(微观应变),表面残余应力(宏观应力),样品的结晶度,金属材料受工艺影响的择优取向(织构),半导体材料的外延层表征...
XRD应用十分广泛,是材料研究必不可少的一种手段
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