如何测量可控硅好坏

2025-04-14 18:55:30

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回答1：

单向可控硅用万用表测量好坏
用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。

正、反向电阻值相等或差异极小。说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结，有明显的正、反向电阻的差异。
这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。有的G、K间电阻值极小，也难以判别两控制极是否已经短路
如阴极A接黑表笔，阴极K接红表比时，万用表的指针发生偏转，就说明这单向可控硅已经遭到损坏。

回答2：

简单的，可以用万用表测试，具体方法如：
万用表选用电阻r×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑笔接的引脚为控制极g，红笔接的引脚为阴极
k，另一空脚为阳极a。此时将黑表笔接已判断了的阳极a，红表笔仍接阴极k。此时万用表指针应不动。用短接线瞬间短接阳极a和控制极g，此时万用表指针应
向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。如阳极a接黑表笔，阴极k接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。

回答3：

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回答4：